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可变角度光散射仪(广角动/静态光散射仪)
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可变角度光散射仪(广角动/静态光散射仪)用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器(V-MALS)。在LS Spectrometer中,检测器安装在可移动的臂上,可以对几乎任何角度进行精确调整,从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术(Modulated 3D)(无稀释测量)和CORENN(改进的聚集检测),实现了市场上全面的纳米颗粒表征。 [展开更多]

产品型号:LS Spectrometer
品牌:LS Instruments

原产地:瑞士

价格:面议

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可变角度光散射仪(广角动/静态光散射仪)用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器(V-MALS)。在LS Spectrometer中,检测器安装在可移动的臂上,可以对几乎任何角度进行精确调整,从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术(Modulated 3D)(无稀释测量)和CORENN(改进的聚集检测),实现了市场上全面的纳米颗粒表征。


- 它能测量什么?

• 颗粒大小

• 多分散性

• 颗粒形状

• 粘度

• 分子量

• 样品结构

捕获 (1).jpg

- 可变多角度光散射(V-MALS)

与带有固定角度传感器的多角度光散射(MALS)仪器不同,LS Spectrometer的检测器安装在样品池周围的旋转臂上,因此可以精确可变地调整到10°至150°之间的任何选定散射角。这有助于显著提高颗粒大小、聚集检测、第二维里系数、颗粒形状或分子量等参数测量的灵敏度。

 新建项目.jpg

- 无稀释样品测量-调制三维技术(Modulated 3D)

DLS和SLS技术都是基于仅检测到单次散射光的假设。然而,随着颗粒浓度的增加,多重散射增加并逐渐主导信号。这在DLS和SLS中都引入了无法检测的系统误差。无论重复测量多长时间或多少次,都无法消除或检测到此错误。为了克服这个问题,LS Instruments开发了可选的调制三维技术,可以有效抑制多重散射。调制三维互相关技术使用两个激光束同时进行两个散射实验,虽然单次散射的贡献是相同的,但在两个实验中多重散射的贡献不同。通过对信号进行互相关,从而抑制了多重散射。三维 LS Spectrometer是一款同时为DLS和SLS提供该技术的仪器。

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- 算法用于改进复杂样品中的聚集和颗粒检测

CORENN算法是一种新的机器学习算法,用于从DLS测量中提取粒度分布(PSD)。CORENN是一种利用先进的信号近似技术和对信号噪声的独特理论估计的DLS反演算法,可以得到极其可靠的结果。这种稳健的方法使最终用户能够从真实的DLS实验中获得真实的粒度分布(PSD)。下图显示了4nm和45nm的颗粒混合物的DLS测量结果,只有CORENN算法能够准确得到这两个分布。

新建项目 (2).jpg

- 用去偏振动态光散射(Depolarized DLS)表征各向异性粒子

这是一种可以轻松地表征各向异性粒子的技术,并越来越受到科学家的关注:一组两个偏振器可以通过简单的DLS测量来表征样品的旋转动力学和各向异性粒子的纵横比。

新建项目 (3).jpg

- 温度控制

我们强大的温度循环器使您能够精确控制样品中的温度。与其他循环器相比,它显著减少了加热和冷却时间。它可以通过LsLab软件进行预编程,以实现不同温度下的一系列测量。


- 样品转角仪

许多适用于光散射的凝胶状样品显示出非遍历(non-ergodic)行为,从而导致测量误差。LS Instruments公司开发了一种样品转角仪,可以用适当的速度旋转非遍历样品,以获得正确的结果。此外,样品转角仪也可用于使样品偏离旋转中心,从而能够使用方形样品池,样品中散射光的光程可以减少到小于200微米,这显著减少了多重散射。

产品参数
原理技术 动态光散射和静态光散射(DLS和SLS),可升级三维技术(3D)和调制三维技术(Modulated 3D)
样品体积 50μL-4mL
粒度范围 (Rh) 0.15nm-5μm*
回旋半径 5nm-5μm*
分子量 360-3,600,000Dalton*
角度范围 10°-150°
角度分辨率 优于0.05°
激光 光纤耦合激光器,120 mW,638 nm
激光产品类别 1类(class 1)
相关器 320通道, 延迟时间12.5ns至15小时,自相关和互相关
检测器 两个高性能雪崩光电二极管(APD)检测器,单模光纤,具有检测器噪声去除功能(准互相关模式),量子效率QE65%,暗计数<250cps.
激光控制 自动衰减器-激光强度调整范围0.001%-100%
温度 高至90°C
尺寸(长x宽x高) 156x84x31cm
软件 LsLab软件,用于数据采集和分析,包括Cumulant和CORENN分析、Zimm Plot、Guinier Plot和Debye Plot。
*取决于样品

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