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Microtrac：作为一个颗粒表征解决方案的供应商，提供三条产品线，在三大洲拥有研发和技术中心。
散射光分折: 作为粒度测量的通用方法—静态激光衍射法的领导者，还提供先进的动态光散射纳米粒度仪，用于纳米颗粒的表征。该产品线的开发和生产地点位于美国的宾夕法尼亚州。
图像分析: 基于动态图像分析技术，为颗粒大小和形态的测定提供了高质量的PartAn系列测量系统。这些图像分析仪的开发和生产地点位于德国的哈恩。
比表面和孔径测量: 另外一条产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。
Microtrac一直致力于为全球客户提供先进的测量技术，来获得可靠的测量结果。更多信息请浏览 Microtrac 官网：http://www.microtrac.com/
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